Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。

我們能測量什么

薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面

薄膜厚度測量儀附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費(fèi)離線分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲、重現(xiàn)和繪制測量結(jié)果

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時(shí)/每周5工作日）。

膜層范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜可以測量。

這包括電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：

膜厚測量范圍

測量原理

常見應(yīng)用

我們對薄膜問題都很感興趣，歡迎與我們聯(lián)系討論您的薄膜，并到我們的實(shí)驗(yàn)室測試您的薄膜。